电弱点测试仪试验时薄膜处理条件和试验条件|北京华测试验仪器有限公司

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北京华测试验仪器有限公司 主营:公司主营产品——几大系列: 介电击穿强度试验仪(电压击穿试验仪)、表面体积电阻率测试仪(高阻计)、电痕化指数试验仪(漏电起痕试验仪)、耐电弧试验仪、冲击电压试验仪、冲击电流试验仪、耐电压试验仪、高压电容电桥、高频Q表、安规综合测试仪、泄漏电流测试仪、静电计、飞安表、高阻高压表、电荷量表、多功能精密传感器分析测试仪等近30种产品。 公司检测设备有:标准高阻检测箱,安捷伦万用表 福禄克万用表、示波器、高阻高压表、直流高压发生器、程控直流电源、标准高压电阻、阻容式高压分压器、数字示波器等一系列高压检测仪器。
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电弱点测试仪试验时薄膜处理条件和试验条件

取样、预处理条件和试验条件

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1.取样

 

从薄卷上取样时,应至少先去掉其外三层薄膜,然后,再按性能的要求取样及制样。取样时的环境条件同试验条件。北京华测HCRD-300型电弱点测试仪可根据薄膜的使用宽度进行电弱点的测试,测试宽度根据用户的要求而调整设定,无须将薄分切成小卷

 

2.预处理条件

 

除非产品标准或本标准中个别试验另有规定外,作为样品的薄膜卷应在温度232、相对湿度 50%5%下至少放置24 h(小时),取好的试样应在该条件下处理1h(小时)。

 

3.试验条件

 

除非产品标准或本标准中个别试验另有规定外,试验应在温度232、相对湿度50%5%、环境 洁净度不大于3000级的条件下进行






*电弱点测试仪试验时薄膜处理条件和试验条件*

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*电弱点测试仪试验时薄膜处理条件和试验条件*

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